解决方案
射频芯片大功率测试系统
产品概述
射频芯片的大功率测试的主要目的是通过前期筛选，及早发现性能不符合要求的产品，也对芯片可靠性进行验证，对长期工作寿命进行评估。同时，射频芯片在大功率激励特性下的射频参数退化的实时测量，以及失效瞬态数据的保存对于衡量器件的特性非常重要。
产品特性
◆ 自主设计开发功放及全自动测控软件
◆ 向导式校准操作指南，校准输入，输出路径的损耗（增益）
◆ 支持PowerServo功能，实时动态调整激励到射频芯片的输入功率
◆ 灵活的外部软件接口，支持不同厂家高低温箱的通信和控制
◆ 系统架构简单，成本低
◆ 输出结果灵活定义，支持功率log文件、网络仪S参数文件的自定义存储
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射频芯片大功率测试系统
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25-01-10 14:20
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