解决方案

滤波器CP测试系统 滤波器CP测试系统

滤波器分选测试一体机（FT）测试系统 滤波器分选测试一体机（FT）测试系统

射频芯片RF-HTOL测试系统 射频芯片RF-HTOL测试系统

射频芯片大功率测试系统 射频芯片大功率测试系统

高速线缆测试系统 高速线缆测试系统

功率放大器 功率放大器

滤波器CP测试系统

   产品概述

随着芯片的结构以及先进封装技术的发展，晶圆级测试越来越重要。与传统的成品测试相比，晶圆级射频参数测试在校准、探针、测试精度、结果的生成等方面，对测试方案提出了更高的要求。

 

赛迈提供了灵活配置的测试方案，拥有业界领军的UPH、测试精度和丰富的交付经验，能够快速地帮助客户部署测试系统。

   产品特性

  • 支持单site和双site测量
  • 支持导入校准文件
  • 支持晶圆中Die的抽样测试（抽样比例：1/2,1/4,1/8等）
  • 软件低良率报警
  • 支持Mapping功能，输出结果包含Mapping(txt)\S参数文件\DAT文件\STDF文件\测试log文件，其中STDF文件可解析成csv文件
  • 开放API，支持数据上传MES系统