解决方案
射频芯片RF-HTOL测试系统
射频芯片RF-HTOL测试系统
产品概述
射频芯片RF-HTOL测试系统是赛迈测控开发的高温工作寿命测试系统，该系统可以实现射频芯片测试的大功率激励与输出端功率检测的功能。
该系统可以应用于可靠性分析，配合高低温箱等设备，可以评估芯片在未来长时间内的正常工作的寿命，即电子器件的生命周期的预估。
4site测试拓扑图
系统组成
滤波器RF-HTOL测试系统由功率计探头、功率放大器、衰减器与开关切换单元（MFI）、上位机软件以及相关的附件组成，该系统支持业内主流的功率计探头（如Keysight U2000系列、R&S NRP系列），借助自主研发的衰减与通道切换单元，以及上位机软件，提供业界领先的测试精度和长期稳定性。
系统特点与性能
衰减器与开关切换单元
支持8/16/32个端口的测量
频率范围 DC~6GHz
远程控制：USB或LAN
系统特点
自主设计功放、功分、MFI模块及全自动测控软件
600MHz~3GHz,通过功分器的输出功率≥40dBm；
核心部件自研可控，根据实际需求灵活定制
3GHz~6GHz,输出功率≥33dBm（取决于客户要求和射频链路的损耗）
采用外接定向耦合器进行自动功率检测和报警
通道间幅度差异≤±0.5dB
系统架构简单，成本相对较低
测试系统功能
测试软件包含链路校准与功放状态监控；
软件界面输出实时的功率随时间变化曲线；
1s内完成每个通道的功率监控；
输出结果可以以.txt/csv文件导出；
RF接口：输入1路、输出4/8路、耦合监控1路
系统无障碍工作时间≥1000h。
全自动化的校准
可自由选择不同通道 校准数据显示
测试和结果显示
仪器设备连接
系统提供模拟模式 校准数据、测试数据保存展示
订购信息
| 序号 | 型号 | 数量 | 描述 |
|---|---|---|---|
| 1 | 信号源 | 1 | Keysight N5182A/R&S SMBV100B/... |
| 2 | 功率计探头 | 1 | Keysight U2000A/R&S NRP... |
| 3 | 功率放大器 | 1 | 赛迈HPG056047 |
| 4 | 衰减器与开关切换单元 | 1 | 赛迈 Multi-fuction Interface Module |
| 5 | 上位机控制软件 | 1 | 赛迈SMIX ATE Platform |
| 6 | 功分器、线缆等附件 | 若干 | 赛迈定制 |
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名称
最后更新时间
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26-08-19 17:44
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