解决方案


射频芯片RF-HTOL测试系统

   产品概述

射频芯片RF-HTOL测试系统是赛迈测控开发的高温工作寿命测试系统,该系统可以实现射频芯片测试的大功率激励与输出端功率检测的功能。

 

该系统可以应用于可靠性分析,配合高低温箱等设备,可以评估芯片在未来长时间内的正常工作的寿命,即电子器件的生命周期的预估。

   产品特性

  自主设计功放,功分,MFI模块及全自动测控软件
  核心部件自研可控,根据实际需求灵活定制
  采用外接定向耦合器进行自动功率检测和报警
  系统架构简单,成本相对较低

  600MHz-3GHz,通过功分器的输出功率≥40dBm
  3GHz-6GHz,输出功率≥33dBm(取决于客户要求和射频链路的损耗)

  通道间幅度差异≤±0.5dB