解决方案


射频芯片大功率测试系统

   产品概述

射频芯片的大功率测试的主要目的是通过前期筛选,及早发现性能不符合要求的产品,也对芯片可靠性进行验证,对长期工作寿命进行评估。同时,射频芯片在大功率激励特性下的射频参数退化的实时测量,以及失效瞬态数据的保存对于衡量器件的特性非常重要。

   产品特性

  自主设计开发功放及全自动测控软件
  向导式校准操作指南,校准输入,输出路径的损耗(增益)
  支持PowerServo功能,实时动态调整激励到射频芯片的输入功率
  灵活的外部软件接口,支持不同厂家高低温箱的通信和控制

  系统架构简单,成本低
  输出结果灵活定义,支持功率log文件、网络仪S参数文件的自定义存储